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更新日期:2024-03-26
簡(jiǎn)要描述:
日本理研計(jì)器開爾文探針FAC-2專用于光刻樣品的開爾文探針輕松設(shè)置樣品,無(wú)需微調(diào)電極和樣品之間的距離
品牌 | 其他品牌 |
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日本理研計(jì)器開爾文探針FAC-2
特征
專用于光刻樣品的開爾文探針
輕松設(shè)置樣品,無(wú)需微調(diào)電極和樣品之間的距離
可在大氣中測(cè)量半導(dǎo)體樣品的費(fèi)米能級(jí)
由于測(cè)量時(shí)間短,因此非常適合測(cè)量隨時(shí)間變化的情況,例如成膜或表面處理后金屬表面的變化。
目的
有機(jī)電子材料的費(fèi)米能級(jí)測(cè)量
金屬和導(dǎo)電薄膜功函數(shù)的測(cè)量
日本理研計(jì)器開爾文探針FAC-2
產(chǎn)品分類 | 開爾文探針 |
模型 | FAC-2 |
測(cè)量原理 | 開爾文法 |
測(cè)量零件尺寸 | Φ10mm |
測(cè)量能量范圍 | 3.4 至 6.2eV(使用功函數(shù)為 5.0eV 的參考樣品進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)) |
測(cè)量時(shí)間 | 10 秒或更短(如果樣品是金屬) |
重復(fù)性(標(biāo)準(zhǔn)差) | 功函數(shù)0.02eV(樣品:金板) |
溫濕度范圍 | 溫度范圍15-35℃,濕度20-60%RH |
電源 | AC100V,50/60Hz 5A(最大) |
外形尺寸 | 約235(寬)×330毫米(高)×408(深)毫米 |
重量 | 約12公斤 |