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更新日期:2024-03-22
簡要描述:
日本cew光學(xué)微缺陷檢測設(shè)備CEW光學(xué)分辨率1.8μm,速度檢測!用于基板和金屬表面的缺陷檢測!
產(chǎn)品種類 | 臺式 | 數(shù)顯功能 | 有 |
---|---|---|---|
溫控功能 | 無 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
日本cew光學(xué)微缺陷檢測設(shè)備CEW
光學(xué)分辨率1.8μm,速度檢測!
用于基板和金屬表面的缺陷檢測!
使用高分辨率相機和高精度 XY 載物臺的二維檢測系統(tǒng)。
適用于光學(xué)薄膜、片材、觸控面板等表面劃痕、異物、缺陷的檢測。
憑借 1.8 μm 的光學(xué)分辨率,可以進(jìn)行超高清檢測。
它還可以測量尺寸和檢查二維沖壓產(chǎn)品。
自動保存檢測數(shù)據(jù)和圖像
攝像頭像素:900萬像素
高光學(xué)分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精細(xì)的檢測點。
適合檢查觸摸面板的外圍電極和印刷電路板上的精細(xì)布線是否有斷線和短路。
用于檢查觸摸面板和異物等缺陷!
觸控面板周邊電極缺陷檢測
板材表面劃傷和異物檢查
基板缺陷檢查
系統(tǒng)配置
日本cew光學(xué)微缺陷檢測設(shè)備CEW
光學(xué)分辨率1.8μm,速度檢測!
用于基板和金屬表面的缺陷檢測!
使用高分辨率相機和高精度 XY 載物臺的二維檢測系統(tǒng)。
適用于光學(xué)薄膜、片材、觸控面板等表面劃痕、異物、缺陷的檢測。
憑借 1.8 μm 的光學(xué)分辨率,可以進(jìn)行超高清檢測。
它還可以測量尺寸和檢查二維沖壓產(chǎn)品。
自動保存檢測數(shù)據(jù)和圖像
攝像頭像素:900萬像素
高光學(xué)分辨率(1.8 μm) 可以清晰地看到精細(xì)的檢測點。
適合檢查觸摸面板的外圍電極和印刷電路板上的精細(xì)布線是否有斷線和短路。
用于檢查觸摸面板和異物等缺陷!
觸控面板周邊電極缺陷檢測
板材表面劃傷和異物檢查
基板缺陷檢查