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更新日期:2024-03-17
簡(jiǎn)要描述:
日本microsq用于磁粉探傷儀LED黑光UVT300它有助于用戶靈活的設(shè)計(jì),例如根據(jù)檢查目標(biāo)創(chuàng)建具有多個(gè)單元的照射區(qū)域。它也被主要的國(guó)內(nèi)汽車用戶用于各種零件檢查。
類型 | 無(wú)損傷 |
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日本microsq用于磁粉探傷儀LED黑光UVT300
它有助于用戶靈活的設(shè)計(jì),例如根據(jù)檢查目標(biāo)創(chuàng)建具有多個(gè)單元的照射區(qū)域。它也被主要的國(guó)內(nèi)汽車用戶用于各種零件檢查。
WD380毫米
照明分布直徑300毫米40004000500040004000
WD600毫米
照明分布直徑300毫米20002000200020002000