軟膜和薄膜用臺(tái)式離線電容式測厚儀TOF-C2
模型 | TOF-C2 * TOF-C的后繼機(jī)型 |
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測量方法 | 非接觸式/電容式 |
測量對象 | 薄膜、粘性保護(hù)膜、易沾灰塵的薄膜 |
測量原理 | 電容式 |
高測量分辨率
由于它是非接觸式,因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。
即使表面狀況粗糙,也可以進(jìn)行測量。
基重測量
操作簡單(具有自動(dòng)介電常數(shù)設(shè)置功能)
測量厚度 | ~ 500 微米 |
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測量長度 | 10 至 10000 毫米 |
測量間距 | 1 毫米 ~ |
小顯示值 | 0.01微米 |
電源電壓 | AC100V 50 / 60Hz |
工作溫度限制 | 5-40°C(測量時(shí)溫度變化1°C以內(nèi)) |
濕度 | 35-80%(無冷凝) |
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